超聲波探傷儀檢測方法按探頭數目介紹

單探頭檢測法

超聲波探傷儀使用一個探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的檢測方法稱為單探頭法。單探頭法操作方便，可查出大多數缺陷，是目前最常用的一種檢測方法。

單探頭法檢測，對于與波束軸線垂直的面狀缺陷和立體型缺陷的查出效果最好。與波束軸線平行的面狀缺陷難以查出。當缺陷與波束軸線傾斜時，則根據傾斜角度的大小，能夠受到部分回波或者因反射波束全部反射在探頭之外而無法查出。

雙探頭檢測法

超聲波探傷儀使用兩個探頭（一個發(fā)射，一個接收）進行檢測的方法稱為雙探頭法。主要用于發(fā)現單探頭無法查出的缺陷。

雙探頭法又可根據兩個探頭排列方式和工作方式，進一步分為并列式、V形串列式、K形串列式、交叉式等。

交叉式：兩個探頭軸線交叉，交叉點為要檢測的部位，此種檢測方法可用來發(fā)現與檢測面垂直的面狀缺陷，在焊縫檢測中，常用來發(fā)現橫向缺陷。

串列式：兩個探頭一前一后，以相同方向放置在同一便面上，一個探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波經底面反射進入另一個探頭，此種檢測方法用來發(fā)現與檢測面垂直的片狀缺陷。這種檢測方法的特點是，不論缺陷是出在焊縫的上部、中部、或根部，其缺陷聲程始終相等，從而缺陷信號在熒光屏上的水平位置固定不變：上、下表面存在的盲區(qū)；兩個探頭在一個表面上沿相反的方向移動，用手工操作較困難，需要設計專用的掃查裝置。

并列式：兩個探頭并列放置，檢測時兩者作同步同向移動。但直探頭作并列放置時，通常是一個探頭固定，另一個探頭移動，以便發(fā)現與檢測面傾斜的缺陷。雙晶探頭的原理，就是將兩個并列的探頭組合在一起，具有較高的分辨力和信噪比，適用于薄工件、近表面缺陷的檢測。

K形串列式：兩探頭以相同的方向分別放置于工件的上下表面上。一個探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波進入另一個探頭，此種檢測方法主要用來發(fā)現與檢測面垂直的面狀缺陷。

V形串列式：兩探頭相對放置在同一面上，一個探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波剛好落在另一個探頭的入射點上，此種檢測方式主要用來發(fā)現與檢測面平行的面狀缺陷。

多探頭檢測法

超聲波探傷儀使用兩個以上的探頭組合在一起進行檢測的方法，稱為多探頭法。多探頭法的應用，主要是通過增加聲束來提高檢測速度或發(fā)現各種取向的缺陷，通常與多通道自動探傷設備配合。